SFP(Small Form-factor Pluggable) ist eine aktualisierte Version von GBIC (Gigabit Interface Converter), einem Schnittstellengerät zur Umwandlung elektrischer Gigabit-Signale in optische Signale. Das Design kann für Hot-Plug verwendet werdenSFPDie Schnittstelle wird häufig in Schaltern verwendet. Gewöhnliche Routing-Produkte können durch Unterstützung um Zugriffsfunktionen erweitert werdenSFPSchnittstelle.
Inbetriebnahmebereich: Während der Testphase:
Temperatur: Module in Industriequalität erforderlichein Testtemperaturbereich: -40℃ ~ + 85℃; Umfang der Testanforderungen für kommerzielle Module: -20℃ ~ + 70℃;
Optischer Leistungsbereich: Minimum: -23 dbm.
Testzweck:Der Bitfehlerratentest besteht im Wesentlichen darin, einen bekannten Datenbitfluss an das zu testende Gerät auszugeben und dann den vom zu testenden Gerät zurückgegebenen Datenfluss zu erfassen und zu analysieren. Um bei verschiedenen Geräten gleiche Testergebnisse zu erzielen, wird häufig eine spezielle Pseudozufallsfolge angewendet, ein Standard, der aus der Definition der Kommunikationsindustrie abgeleitet ist. Vereinfacht gesagt: auf Fehler bei der Datenübertragung testen. Es ist einsder Ausführungsformen von der Qualität des Übertragungssignals.
Der Test erfordert Ausrüstung: Bitfehlertester, Testplatine, optisches Modul, Computer, Glasfaserkabel, SMA-Kupferachse usw
Wie in der Abbildung gezeigt, ist der Fehler ERPanel wird vorgestellt
Testplatine: SMA-Koachsen sind konvertiertd zum optischen Signal
Optisches Modul: wie in der Abbildung gezeigterste Abbildung dieses Artikels.
Lichtwellenleiterleitung: LC/SC Einzelmode, Multimode, entsprechend dem entsprechenden optischen Modul
SMA-Kupferachse: Einzige Voraussetzung: die Frequenz, mit der die Übertragung erreicht werden kann
TestpatSeeschwalbe:
1. Elektrisch zu optisch: Das vom Fehlergerät ausgesendete elektrische Signal wird in optische Signale umgewandeltSignal durch die Testplatine und das optische Modul und dann in das Fehlermessgerät eingeben.
2. Optisch zuelektrisch: Das vom Fehlermesser ausgegebene optische Signal wird über die Testplatine und das optische Modul in ein elektrisches Signal umgewandelt und dann in den Fehlermesser eingegeben.
3.Elektrisch zu electric, unter Verwendung von zwei optischen Modulen. Das von Kanal 1 ausgesendete elektrische Signal wird über die Testplatine und das optische Modul 1 in ein optisches Signal umgewandelt. Anschließend wird dieses optische Signal in das optische Modul 2 eingegeben, das über die Testplatine und in ein elektrisches Signal umgewandelt wird optisches Modul 2 und wird zum Vergleich an den Fehlermesser zurückgegeben.
Ein einfacher Elektrolichtmodus, wie in Abb