1. BOB-Commissioning Prozess:
1. BOB Kommissiounsprozess vun HDV Phoelectron Technology LTD:
Et ass haaptsächlech fir den opteschen Kraaft an d'Ae Kaart Ausstierwen Verhältnis vum Sendende Enn ze debuggen, an den Empfänger muss seng Empfindlechkeet an d'RSSI Iwwerwaachung kalibréieren.
BOB Kommissioun Index:
testen | parameter | Spezifikatioune | Eenheet | Remarquen | |||
Funktioun | Attribut | Beschreiwung | Min. | Typ. | Max | ||
Debugging Deel | TxPower | Tx Iwwerdroung Muecht | 1.2 | 1.5 | 1.8 | dBm | Fir déi spezifesch Messung kann den Index no der BOSA Leeschtung optimiséiert ginn |
Extra Verhältnis | Ausstierwen Verhältnis | 9.5 | 12 | 14 | dB | ||
EyeCross | Aen Diagramm Kräizung | 45 | 50 | 55 | % | ||
RxPoCalPoint_0 | D'Rx Eechung déi éischt Parameter Conditioun | -10 | -10 | -10 | dB | ||
RxPoCalPoint_1 | Rx Eechung déi zweet Parameter Conditioun | -20 | -20 | -20 | dB | ||
RxPoCalPoint_2 | D'Rx Eechung déi drëtt Parameter Conditioun | -30 | -30 | -30 | dB | ||
Testen Deel | TxPower | Tx Iwwerdroung Muecht | 0,5 | 2.5 | 4 | dBm | Fir déi spezifesch Messung kann den Index no der BOSA Leeschtung optimiséiert ginn |
TxPo_DDM | Iwwerwachung optesch Kraaft iwwerdroen | 0,5 | 2.5 | 4 | dB | ||
DiffTxPower | Iwwerdroung Iwwerwachung optesch Muecht Ënnerscheed | -1 | 0 | 1 | % | ||
Extra Verhältnis | Emissioun Ausstierwen Verhältnis | 9 | 11 | 14 | dB | Fir déi spezifesch Messung kann den Index no der BOSA Leeschtung optimiséiert ginn | |
EyeCross | Aen Diagramm Kräizung | 45 | 50 | 55 | dB | ||
EyeMargin | Eye Diagram Magin | 10 | 10 | 10 | dB | ||
TxCurrent | Emissioun aktuell | 180 | |||||
TotalCurrent | total aktuell | 100 | 250 | 300 | |||
Sensibilitéit | Empfindlechkeet | -27 | -27 |
2. BOB Verbindungsdiagram vun HDV Phoelectron Technology LTD.:
Konventionell BOB Testverbindungsdiagramm, Single-Wee Test, komplex extern Verbindung, den Attenuator, Fehlermeter, Kraaftmeter, CDR an aner Ausrüstung musse separat kaaft ginn. All Workstation erfuerdert e Computer fir den Test z'ënnerstëtzen.
1. Aféierung vun ES-BOBT8 Serie BOB Testausrüstung:
2. Kann bis zu 8 Kanäl fir BOB Test ënnerstëtzen, Intern integréiert Kraaftmeter an Attenuator, kann d'Sendung an d'Empfang Debugging an d'Test zur selwechter Zäit fäerdeg maachen;
3. Integréiert BERT Funktioun an 2xSFP + Liichtquell Interface, kann 1.25G ~ 10G opteschen Signal Wasserstoff ënnerstëtzen, Signal Liichtjoer Quell fir BOB Empfindlechkeet Test ze bidden;
4. Integréiert CDR Ausléiser eraus, intern Self-gebaut Auer Signal Erhuelung, kann der Auer Signal néideg fir den opteschen Aen Diagramm Test;
5. Selbstänneg Kalibrierung Power Meter kann Standard optesch Kraaft Kalibratiounserkennung ubidden.
ES-BOBT8 Serie BOB Test System bitt e komplette Set vun Testausrüstungsléisungen, déi maximal 8 Kanäl ubidden.ONUBOB Test. De BER Tester a Liichtquell, Attenuator, Kraaftmeter, Wellelängt Divisioun, opteschen Schalter an aner Ausrüstung sinn an engem Apparat integréiert, mat professioneller BOB Testautomatiséierungssoftware, kënnen e komplette Set vu BOB Testléisungen ubidden.
2, ;Hardware Aarbecht Prinzip:
Roll vun der ES-BOBT8 Serie vu BOB Hardware Systemer:
1.An der Produktioun Prozess, kontrolléieren ob derONUoptesch Hafen Liichtkraaft ass normal an Echtzäit
2.Check ob der kritt opteschen Muecht Wäert gelies vun derONUopteschen Hafen ass korrekt.
Aarbechtsprinzip vum Hardwaresystem:
1. Déi iewescht Computersoftware am Betribssystem ass mat der USB-Interface vum SCM U1 (Modell C8051F340) duerch d'USB-Interface am Testsystem verbonne fir d'Mënsch-Maschinnverbindung ze realiséieren;
2. Den SCM U1 (Modell C8051F340) geréiert U3 (Bitfehlerdetektorchip VSC8228, Signalgenerator), OLT Modul (PON SFP), ADC (duerch ADL5303 an AD5593 ëmgesat), an DAC (duerch MAX4230 an AD5593 ëmgesat) duerch den IIC bus.
3. De Bit Fehlerdetektor Chip VSC8228 schéckt d'Signal vun der spezifizéierter Codetyp an Taux no der Instruktioun, a fiert den OLT Modul fir den opteschen Signal vum entspriechende Codetyp an Taux duerch d'SerDES Interface ze schécken. D'Wellelängt vum erausgeschéckt OLT ass 1490nm, an d'Liicht gëtt duerch de Splitter an aacht opgedeelt. Nodeems d'DAC Kontrollattenuator VOA op déi spezifizéiert optesch Kraaft ofgeschwächt ass, ass et mat der verbonnenONUopteschen Hafen.ONUliest déi entspriechend optesch Kraaft a vergläicht et mam aktuellen Wäert.
4. DAC Implementéierungsmechanismus: SCM U1 (Modell C8051F340) schéckt DAC Daten op AD5593 duerch I2C Bus, en I / O Hafen vun AD5593 generéiert en elektrescht Signal, an e Spannungssignal gëtt duerch den operationelle Verstärker MAX4230 generéiert, deen op den ugewandt gëtt. Spannungsinput Pin vum VOA Attenuator, sou datt d'Liicht vum PON OLT Modul emittéiert gëtt op déi spezifizéiert optesch Kraaft ofgeschwächt, an dann un den opteschen Hafen vumONU.
5. ADC Ëmsetzung Mechanismus: No der Luucht vun derONUgëtt vum PD (Fotodetektor) festgestallt, generéiert de PD Signalstroum vu verschiddene Gréissten jee no der Stäerkt vum opteschen Signal, a gëtt duerch de Logarithmesche Konverter ADL5303 an eng Spannung mat engem méi breeden numeresche Beräich a méi héijer Präzisioun ëmgewandelt. De Wäert gëtt vun AD5593 unerkannt an an en digitale Signal duerch den I2C Bus duerch den SCM U1 (Modell C8051F340) ëmgewandelt an endlech op der Hostcomputer Interface presentéiert.